Mit dem rasch wachsenden Integrationsgrad mikroelektronischer
Schaltungen steigt der mögliche Schaden durch hochenergetische
Strahlung, insbesondere im Einsatzbereich von Luft- und
Raumfahrttechnik, aber auch bei Kernreaktoren, in der Materialforschung
und in der medizinischen Diagnostik und Therapie. Das Buch liefert eine
fundierte Einführung, die von den physikalischen Grundlagen der
Wechselwirkung von Strahlung mit Materie, über die Erklärung von
Schädigungsmechanismen bis hin zur Beschreibung von
Strahlungsempfindlichkeit reicht. Der starke Einfluß der verwendeten
Technologie wird ebenso behandelt wie die Möglichkeit der Abschirmung
und der Einfluß von Strukturverkleinerungen auf die Strahlensensibiltät.