Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler
Schaltungen mit zufällig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren
vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler
durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf
aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim
konventionellen Zufallstest benötigen viele Schaltungen unwirtschaftlich
große Mustermengen. Um dieses Problem zu lösen, wird eine Methode
vorgeschlagen, für Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu
bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In
vielen Fällen kann so die nötige Musterzahl um mehrere Größenordnungen
gesenkt werden. Zur Ausführung eines einfachen Selbsttests wird ein
Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im
Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der
Mehraufwand an Schaltelementen für den Selbsttest mit optimierten
Zufallsmustern ist mit dem herkömmlichen Zufallstest vergleichbar.
Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen
vergrößert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne daß
signifikante Mehrkosten anfallen.